阻抗分析儀IM3570可實現(xiàn)不同測量條件下的高速檢查，一臺儀器能實現(xiàn)LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續(xù)測量和高速檢查。LCR模式下快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測量。適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測量，分析儀模式下可進行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量。 LCR測試儀和阻抗分析儀被設(shè)計用于測試電子元件在某些頻率或?qū)掝l率范圍內(nèi)的阻抗。如果阻抗不符合規(guī)格，則這些電子元件將不能正常工作。
LCR測試儀和阻抗分析儀使用自動平衡電橋法（ABB）和射頻電流-電壓法（RF I-V）兩種方法測量阻抗。
使用自動平衡電橋法的LCR測試儀或阻抗分析儀可以在較寬的頻率范圍內(nèi)（1MHz-100MHz）測量較大的阻抗，適用于低頻、通用測試，但尚不足以進行高頻測試。
而使用射頻電流-電壓法的儀器通常提供較高的精度（約1%左右），并可以在高頻下測試較大的阻抗。
LCR測試儀和阻抗分析儀到底有哪些差別呢？
LCR測試儀和阻抗分析儀可以使用以上兩種方法測量阻抗，這兩種產(chǎn)品之間的差別更多的是功能和顯示：
LCR測試儀通常采用單一頻率進行測量并提供數(shù)值。
阻抗分析儀可以不斷地切換頻率進行測量，并提供頻率特性圖，也可以執(zhí)行等效電路分析。
隨著信號電感器和功率電感器在智能手機、平板電腦和汽車方面的使用持續(xù)增長，阻抗分析儀和LCR的應(yīng)用越來越廣泛，阻抗分析儀尺寸緊湊，寬頻率范圍，憑借高性價比獲得廣大用戶的認可。
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